- ISO 15470:2004
- изд.1 B TC 201/SC 7Химический анализ поверхности. Рентгеновская спектроскопия с фотоэлектрической регистрацией. Описание выборных рабочих параметров прибора—————раздел 71.040.40
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.